HAST老化箱 用于芯片封裝可靠性測試生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

產(chǎn)品詳情
本HAST（Highly Accelerated Stress Test，高加速應(yīng)力測試）老化箱是一款專為評估芯片封裝可靠性而設(shè)計(jì)的精密測試設(shè)備。它通過模擬高溫、高濕及高壓環(huán)境，在短時(shí)間內(nèi)加速材料老化與失效過程，是半導(dǎo)體行業(yè)進(jìn)行產(chǎn)品壽命預(yù)測和質(zhì)量控制的關(guān)鍵設(shè)備。

用途
主要用于集成電路、半導(dǎo)體芯片、封裝組件（如FC-BGA、SiP、WLCSP等）的可靠性驗(yàn)證與失效分析。可執(zhí)行JESD22-A110等標(biāo)準(zhǔn)HAST測試，評估封裝體在潮濕環(huán)境下的抗腐蝕能力、引線鍵合強(qiáng)度、材料界面穩(wěn)定性等，顯著縮短傳統(tǒng)高溫高濕測試所需時(shí)間。

HAST老化箱 用于芯片封裝可靠性測試

技術(shù)參數(shù)

• 溫濕度范圍：溫度105℃~142℃（常用130℃/140℃），濕度75%RH~100%RH（非飽和/飽和蒸汽）

• 壓力范圍：0.02MPa~0.3MPa

• 升溫時(shí)間：約40分鐘內(nèi)從常溫升至142℃（空載）

• 內(nèi)箱尺寸：常見定制容積20L~100L（標(biāo)準(zhǔn)型為50L）

• 控制精度：溫度±0.5℃，濕度±2.5%RH，壓力±1kPa

• 安全防護(hù)：超壓自動(dòng)泄壓、缺水保護(hù)、過流保護(hù)、機(jī)械式安全閥

箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)

• 外箱：采用優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板，表面靜電噴涂，耐腐蝕。

• 內(nèi)箱：全部采用SUS304不銹鋼板，無縫焊接，耐高溫高壓腐蝕。

• 保溫層：高性能玻璃纖維棉，確保熱效率與箱體表面低溫安全。

• 密封：雙道硅橡膠耐高溫柔性密封條，保證高壓下的密封性。

• 樣品架：不銹鋼多層可調(diào)支架，承重性強(qiáng)，易于存取。

產(chǎn)品特點(diǎn)

1. 高效加速：運(yùn)用非飽和加壓蒸汽原理，較傳統(tǒng)THB測試效率提升數(shù)倍。

2. 精準(zhǔn)控制：采用高精度溫濕度傳感器與PID+SSR控制系統(tǒng)，確保測試條件精確穩(wěn)定。

3. 安全可靠：具備多重硬件與軟件安全聯(lián)鎖，門體帶壓力自鎖裝置，泄壓前無法開啟。

4. 人性化操作：大尺寸觸摸屏，圖形化界面，支持程序編輯、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與USB導(dǎo)出。

5. 低運(yùn)行成本：優(yōu)化設(shè)計(jì)的蒸汽發(fā)生系統(tǒng)與隔熱結(jié)構(gòu)，耗水量與耗電量低。

風(fēng)道系統(tǒng)
采用頂部水平送風(fēng)、底部回風(fēng)的科學(xué)循環(huán)風(fēng)道。配置大功率長軸電機(jī)和多翼式離心風(fēng)機(jī)，搭配耐高溫風(fēng)輪，確保箱內(nèi)溫濕度場高度均勻（均勻度可達(dá)±1℃以內(nèi)）。風(fēng)道與加熱器、加濕器集成設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)快速響應(yīng)與穩(wěn)定循環(huán)。

安裝與調(diào)試
設(shè)備為落地式，需放置于平整、通風(fēng)良好的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境，預(yù)留散熱空間。用戶需準(zhǔn)備符合要求的電源（通常為AC380V）和純水/去離子水水源。我司提供上門安裝、調(diào)試服務(wù)，并對用戶進(jìn)行現(xiàn)場操作與日常維護(hù)培訓(xùn)，確保設(shè)備即刻投入可靠使用。

售后服務(wù)
提供整機(jī)一年保修，關(guān)鍵部件（如控制器、傳感器）延保服務(wù)。全國主要城市設(shè)有服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)，提供快速響應(yīng)技術(shù)支持、定期巡檢與校準(zhǔn)服務(wù)。終身提供備件供應(yīng)與優(yōu)惠的有償維修服務(wù)。